GY8120是奧譜天成公司全新推出的全光譜透過率測(cè)量系統(tǒng)，這是一款數(shù)據(jù)精確，操作方便，性&價(jià)&比&超&高的新型設(shè)備。先進(jìn)的光譜測(cè)量技術(shù)，可進(jìn)行全光譜的透過率測(cè)量，具有快速、簡(jiǎn)易、準(zhǔn)確等特性。能快速地檢測(cè)手機(jī)面板及各類透明及半透明產(chǎn)品的透過率，適用于光學(xué)、化工等工業(yè)及科研領(lǐng)域!

采用優(yōu)質(zhì)的光譜儀進(jìn)行光譜檢測(cè)接收，內(nèi)置勻光系統(tǒng)對(duì)透射光譜進(jìn)行光束整形。檢測(cè)光斑可調(diào)，更好的匹配的了不同尺寸樣品的測(cè)試，面測(cè)量相對(duì)于單點(diǎn)測(cè)量具有更可靠的測(cè)量準(zhǔn)確性。

直觀友好的用戶界面使得技術(shù)人員和非技術(shù)人員均可輕松完成操作；優(yōu)質(zhì)的硬件配置和耐用的多變量算法更進(jìn)一步的確保了實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性、一致性和可靠性。

特點(diǎn)

無(wú)損、快速檢測(cè)，一鍵操作；

極寬的光譜測(cè)量范圍：200nm-2500nm；

根據(jù)測(cè)量樣品屬性，提供多型號(hào)可選；

靈活搭配的透射測(cè)量方案；可測(cè)量整段光譜透射率。

采用高精度光譜測(cè)量技術(shù)，精度高、測(cè)量速度快、穩(wěn)定性好；

優(yōu)異的波長(zhǎng)重復(fù)性達(dá)0.1nm；

高信噪比，最小化雜散光；

信噪比最高可達(dá)≥1000：1；

測(cè)試時(shí)間短；

測(cè)量光斑可調(diào)，適用于不同尺寸樣品；

測(cè)量精度高，檢測(cè)誤&差＜0.2%；

可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè)。

典型應(yīng)用

手機(jī)蓋板IR孔

各種薄膜透光率測(cè)量

閃光燈孔透過率測(cè)量

鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板透過率測(cè)量

太陽(yáng)膜、濾光片透光測(cè)量

聚光玻璃、毛玻璃、鏡片

珠寶、涂層檢測(cè)分析

鏡頭透過率測(cè)量